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面陣相機
通過將進入LCD面板驅動芯片粘結的過程來檢測缺陷； 它用無差別的光線獲取導電球的陰影，使其看起來是三維的； 可以在LCD的后鍵合過程和芯片對準過程中檢查壓接位置，導電球的密度以及壓痕強度的光學系統(tǒng)； 使用線掃描相機和大功率照明測量高達微米級別的導電球壓痕； 主要用于導電粒子檢測機，可選10倍物鏡，5倍物鏡(CMU5X-DIC-FO)。
DIC microscope(9.72X)
大?。?2.76K
CMU9.72X-DIC-K
大小：139.03K
地址：濰坊市高新區(qū)高新大廈1319室郵箱：[email protected]
